ADX-8000 Mini θ - θ Порошковый рентгеновский дифракционный прибор
    ADX-8000 Mini θ - θ Порошковый рентгеновский дифракционный прибор

ADX-8000 Mini θ - θ Порошковый рентгеновский дифракционный прибор - Дифрактометры

ADX-8000 Mini θ - θ

Документация
ADX-8000 mini θ-θ Порошковая дифракция рентгеновских лучей (XRD) - это многофункциональный рентгеновский дифрактометр с исключительной скоростью анализа, надежностью и воспроизводимостью. 
ADX8000 XRD был специально разработан для решения задач современных исследований материалов, когда срок службы рентгеновского дифрактометра значительно превышает горизонт любого исследовательского проекта. 
Компоненты являются первоклассными и обеспечивают мощную систему. 
Настольный XRD ADX8000 может работать с порошками, жидкостью, тонкими пленками, наноматериалами и многими другими материалами. 
Рентгеновский дифрактометр ADX8000 может использоваться для множества различных задач - академической, фармацевтической, химической и нефтехимической, исследования материалов, метрологии тонких пленок, нанотехнологий, продуктов питания и косметики, судебной экспертизы, горнодобывающей промышленности и полезных ископаемых.
тгеновский генератор Режим управления 1 кВ / шаг, 1 мА / шаг, управление с ПК
Номинальная выходная мощность 600 Вт, 1200 Вт
Напряжение на трубке 40 кВ с плавной регулировкой
Ток трубки 13 ~ 30 мА, плавная регулировка
Рентгеновская трубка Cu (2,4 кВт) Размер фокуса: 1x10 мм 2 LFF Керамика или стекло
Стабильность ≤ 0,001%
     
Гониометр Гониометр θ - θ
Радиус дифракционного круга 150 мм
Диапазон сканирования 2θ -6 ° ~ 150 °
Скорость непрерывного сканирования 0,0012 ° ~ 70 ° / мин
Установка скорости угла 1500 ° / мин
Режим сканирования θ-θ связь, 2θ, 2θ непрерывное или  пошаговое сканирование
Односторонняя повторяемость θ  ≤ 0,0001 °
Минимальный угол шага  0,0001 °
точность θd или θs  ≤ 0,0001 °
Фильтр Ni
Щели Щель дивергенции, щель рассеивания, щель приема
     
Блок записи Счётчик Пропорциональный счетчик
Максимальный CPS 5 × 10 5 CPS, 5 × 10 7 CPS
Разрешение энергетического спектра пропорционального счетчика ≤ 25% (Cu, Ka)
Обнаруживаемое высокое напряжение 1500-2100 В непрерывная настройка
Стабильность системного детектора ≤ 0,03%
Высоквольтный счетчик  дифференциальный или интегральный, автоматический PHA, корректировка мертвого времени
Стабильность системного детектора ≤ 0,03%
Образец, положение Z регулируемый
     
Интегрированная производительность Доза облучения ≤ 1 мкЗв / ч
Интегрированная стабильность системы ≤ 0,1%
Микроструктура Анализ микроструктуры, +/- 0,5 нм
Микродифракция Микрообразец или площадь, 2 нм ~ 19 мкм
Измерение 1000 мм × 800 мм × 1600 мм
  • Атомная шкала разрешения
  • Большой размер выборки
  • DSP (цифровая обработка сигналов) для высокой производительности
  • Встроенная операционная система реального времени
  • Соединение Fast Ethernet с компьютером

 
Программное обеспечение

Общая обработка дифракционных данных: автоматический поиск пика, ручной поиск пика, интегральная интенсивность, разделение Kα1, α2, удаление фона, параметр решетки, объемы и положение атомов, фазовый анализ, кристаллографическая деформация, сглаживание и увеличение структуры, множественный график, трехмерный построение и моделирование картины дифракции рентгеновских лучей (XRD) и др.

  • Качественный анализ

    Программное обеспечение для обработки данных портативного XRD имеет функцию поиска и сопоставления на основе всего профиля и угла дифракции. В процедуре согласования профиля используется разработанный режим для проведения качественного анализа за счет уменьшения диапазона поиска от основной, второстепенной до микрофазы без указания угла дифракции. Процедура согласования угла дифракции основана на положении пиков и интенсивности и обычно используется для качественного анализа данных с большой угловой ошибкой.

  • Количественный анализ

    После определения фазового состава содержание каждой фазы можно рассчитать с помощью RIR или / и уточнения Ритвельда (количественный анализ без критериев). Доступны идентификация фаз, анализ структуры и микроструктуры, анализ тонких пленок, исследование напряжений, анализ текстуры. PDF-2, База данных серии PDF-4, ICDD, поиск и сопоставление, кристаллографический поиск и сопоставление

  • Сюжет и экспорт

    Программное обеспечение для обработки данных работает с интерфейсом Windows. Готовящийся экспортированный узор можно было пометить, увеличить, уменьшить, а также скопировать и вставить.